Каталог продукции

Корзина заказов

Общее количество:0 шт.
Общая стоимость:0 руб.

IG-1000


Анализатор размеров наночастиц IG-1000 - это уникальный инструмент, который позволяет проводить измерения не только в нано, но и в суб-нано диапазоне.

Анализатор размеров наночастиц  IG-1000Революционный метод измерения, созданный компанией Шимадзу позволяет измерять размеры наночастиц  в диапазоне от 0,5 до 200 нм с высокой точностью простым и эффективным способом.

Этот метод результативен и при анализе размеров одиночных наночастиц.

Преимущества:

  • Высокочувствительный анализ размеров частиц. Для анализа используется метод индуцированной решетки (IG), который базируется на новом принципе измерения размеров наночастиц. Этот мектод позволяет даже в области одиночных наночастиц получать хорошее соотношение сигнал/ шум, благодаря чему возможны стабильные измерения с хорошей воспроизводимостью.
  • Сопротивляемость загрязнению. Благодаря использованию метода  индуцированной решетки (IG), загрязнения исходного образца не оказывает  существенного влияния на результаты измерения. Фильтрация проб для удаления крупных частиц не является обязательной.
  • Высокая воспроизводимость. Новый метод измерения ( IG) гарантирует высокую воспроизводимость и получение стабильных данных и, следовательно, устраняет недостоверность и неточность при анализе частиц в нано области. Это является особенно важным при анализе частиц размером меньше 10 нм.
  • Современное программное обеспечение WINGIG. Программное обеспечение, совместимое с операционными системами Windows XP/Vista, предназначено для управления прибором, обработки и вывода полученных данных.
  • Метод индуцированной решетки. На специальным образом расположенные электроды, помещенные в среду с диспергированными частицами, подается переменное напряжение. Вследствие этого создается определенное расположение частиц в жидкости, так называемая индуцированная дифракционная решетка. Если прекратить подачу напряжения, то частицы диффундируют и дифракционная ррешетка распадается. Сенсоры регистрируют изменение интенсивности света при распаде дифракционной решетки, что позволяет получить данные о распределении частиц по размерам.

 

Характеристики:
Метод измерений IG-метод
(метод индуцированной решетки)
Диапазон измерений 0.5-200 нм
Время измерения 30 секунд
(от начала измерения до получения результата)
Количество анализируемого жидкого образца 250-300 мкл
детектор фотодиод
Источник света полупроводниковый лазер
(750 нм, выходящий сигнал 3 мВт)
Ячейка емкостная ячейка
Связь с ПК кабель RS-232 c D-sub 25-пиновым разъемом
Условия эксплуатации температура : 15-35 °С,
влажность: 20-80 % (без конденсации)
Электропитание 100 В  ±10% AC, 50/60Гц, 2 A
Размер, вес 600х400х200 мм, 15 кг