Каталог продукции

Корзина заказов

Общее количество:0 шт.
Общая стоимость:0 руб.

Спектрометр EDX-720P / 800P


Энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры EDX-720P / 800P

Спектрометры серии EDX предназначены для быстрого неразрушающего определения качественного и количественного элементного состава твёрдых и жидких образцов, порошков, гранул, пластин, плёнок. 

Диапазон определяемых элементов: от Na по U (EDX-720P), от С по U (EDX-800P)

Спектрометр EDX-720P / 800P

  • Большая кюветная камера рентгенофлуоресцентных спектрометров EDX предназначена для анализа образцов диаметром до 300 мм и высотой до 150 мм.
  • Программное обеспечение позволяет определять толщину и элементный состав тонких плёнок и покрытий. Метод фоновых фундаментальных параметров позволяет анализировать плёнки органической природы.
  • Пять типов первичных фильтров минимизируют влияние фона, что увеличивает соотношение сигнал/шум и значительно улучшает пределы обнаружения элементов в образцах различной природы.
  • Программа сопоставления состава использует библиотеки данных и исключает необходимость наличия стандартных образцов для количественного анализа.
  • Анализ может проводиться на воздухе, в вакууме или среде гелия (для определения лёгких элементов в жидкостях).
  • Жидкий азот необходим только на время измерений (EDX-720P / 800P).
  • Цифровая камера (опция) предназначена для наблюдения за анализируемым участком образца в процессе исследования.
  • Использование коллиматоров (опция) позволяет проводить анализ микровключений и дефектов в образцах а также снизить фон при исследовании проб малых размеров.

Области применения рентгенофлуоресцентных спектрометров EDX:

  • Электронная промышленность:
    Анализ состава и дефектов тонких плёнок, полупроводников, магнито-оптических дисков, жидких кристаллов. Определение токсичных металлов в электронных компонентах в соответствии с требованиями Европейского Сообщества WEEE, RoHS и ELV. 
  • Химическая промышленность:
    Органические и неорганические материалы, катализаторы, пигменты, краски, резины, упаковочные материалы.
  • Нефтяная и нефтехимическая промышленность:
    Определение Ni, V, S, других элементов в нефтепродуктах и присадках. Определение неизвестных веществ в смазочных материалах.
  • Строительные и конструкционные материалы:
    Анализ керамических материалов, цементов, стёкол, кирпичей, глин.
  • Медицинские материалы:
    Анализ широкого круга продуктов, включая катализаторы  для синтеза. Количественное определение таких важных элементов как галогены, S, Р.
  • Сельское хозяйство и пищевая промышленность:
    Анализ почв, удобрений, пищевых продуктов.
  • Чёрная и цветная металлургия:
    Анализ чёрных и цветных металлов и сплавов, припоев, благородных металлов, руд и шлаков.
  • Машиностроение:
    Толщина и композиционный состав покрытий.
  • Окружающая среда:
    Анализ почв, сточных вод, золы, фильтров.
  • Академическая наука:
    Геологический и археологический анализ

Спектрометр EDX-720 / 800HS / 900HS

 

Спектрометр EDX-720 / 800HS / 900HS

 

Диапазон определяемых элементов 11Na - 92U (EDX 720P),
6C - 92U (EDX-800P)
Рентгеновский генератор Трубка с Rh-анодом,
воздушное охлаждение напряжение 5 - 50 кВ,
ток 1 - 1000 мкА
Облучаемая площадь Диаметр 10 мм
Коллиматоры (опция) Автоматический выбор 4 типов: 1; 3; 5 и 10 мм
либо 0,3; 1; 3 и 10 мм
Детекторы EDX-720P / 800P: Si(Li),
жидкий азот необходим только на время измерений,
расход 1 л/день 
Кюветное отделение анализ на воздухе, в вакууме или среде гелия (опция) 
8 или 16-позиционный автосамплер 
устройство для вращения образца 
приставка для прецизионной установки образца (опция) 
цифровая камера для наблюдения образца (опция)
Размеры 580 х 650 х 420 мм
Вес 85 кг


Программное обеспечение 
Качественный анализ Автоматический и ручной режим расшифровки пиков
Количественный анализ метод калибровочных кривых
матричная коррекция
метод фундаментальных параметров (ФП)
метод фоновых ФП
анализ тонких плёнок методом ФП
Программа сопоставления состава (интенсивность/содержание)
Коррекции на интенсивность, энергию, полуширину пика
Мониторинг состояния прибора